Лазерный сканирующий микроскоп
 
Аналитические приборы
Спектральные приборы
Лазеры
     
  СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП  
 
    На главную      Контакты
 

3D сканирующий конфокальный микроскоп со спектрометром
модель
"Nanofinder S"
Сканирующий лазерный микроскоп
 

Одновременный / Многофункциональный анализ:

  • Рамановские измерения
  • Люминисцентные измерения
  • Измерения лазерного отражения и пропускания
Подробную информацию о 3D сканирующем (лазерном) конфокальном микроскопе
со спектрометром "Nanofinder S" Вы можете найти здесь (PDF-файл, 717 Кб)

Лазерный сканирующий микроскоп со спектрометром "Nanofinder S” - это универсальный комплекс, позволяющий проводить многофункциональный анализ микроструктур в 3-х измерениях. Он отлично сочетает в себе передовые доситижения традиционной оптической высокоразрешающей микроскопии и лазерной сканирующей конфокальной спектроскопии. Сердцем комплекса является конфокальный микроскоп, сопряженный со спектральной системой, позволяющей получать трехмерное изображение с пространственным разрешением 200 нм.

3D сканирующий конфокальный микроскоп со спектрометром "Nanofinder S" незаменим для исследований в нанобиотехнологиях, при комплексном анализе таких объектов как полупроводники, жидкие кристаллы, оптические световоды, полимеры, фармацевтические и биологические вещества, одиночные молекулы и наночастицы.

Достоинствами системы "Nanofinder S", делающими ее гибкой и способной решать разнообразные задачи, являются: модульная структура комплекса, возможность выбора различных лазеров, использование автоматизированных трехпозиционных узлов для работы с тремя лазерами, быстрое определение пространственного распределения материала с одновременным построением изображения с помощью лазерного / Рамановского конфокального микроскопа и др.

    

  • Высокое пространственное разрешение:
        200 нм (оси X-Y);  500 нм (ось Z)
  • Быстрый анализ в режиме построения изображения:
        4 мксек на одну точку
  • Измерение рамановского сдвига коротких длин волн:
        80 см-1 (633 нм);  90 см-1 (488 нм)
  • Модульная структура, возможность усовершенствования
  • Высокая температурная и механическая стабильность
  • Поляризационные измерения
  • Полная автоматизация
  • Высокое спектральное разрешение:
        0,008 нм (с Эшелле-решеткой, длина волны 500 нм);
        0,025 нм (с решеткой 1200 штр/мм)
  • Высокоэффективный спектрограф с компенсацией астигматизма (Imaging)
  • Длины волн лазерного возбуждения:
        350 - 850 нм (одновременно может использоваться до 3 лазеров с автоматическим переключением)
  • Низкая мощность возбуждения (от мкВт до мВт): неразрушающий анализ
  • Оптика, оптимизированная для Ваших задач:
        VIS 390 - 800 нм  или  442 - 900 нм;
        NIR 600 - 1000 нм
сканирующий зондовый микроскоп
СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП (ПРЯМОЙ ТИП) *
  Модель:
  Режимы наблюдения:



  Объективы: 
  Окуляры: 
  Перемещение столика по осям X-Y:
  Перемещение столика по оси Z:
  Шаг перемещения столика:
  Чувствительность фокусирующего механизма:

Micro 200T
проходящий свет;
отраженный свет (светлое и темное поле);
поляризационный контраст;
дифференциальный интерференционный контраст
Plan Apo BD 5x/0,15;  10x/0,3;  20x/0,45;  50x/0,8;  100x/0,9
10x;  12,5x;  15x
200 x 200 мм
21 мм
50 нм (сканирование по оси Z)
0,05 мм/оборот (ручная фокусировка)
СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП (ИНВЕРТИРОВАННЫЙ ТИП) *
  Модель:
  Режимы наблюдения:





  Объективы: 
 
  Окуляры: 
  Перемещение столика по осям X-Y:
  Перемещение столика по оси Z:
  Шаг перемещения объектива с помощью Z-сканера:
  Чувствительность фокусирующего механизма:

Nikon TE2000
проходящий свет;
отраженный свет (светлое и темное поле);
поляризационный контраст;
дифференциальный интерференционный контраст
фазовый контраст;
модуляционный контраст Хофмана
CFL Plan Flour 4x;  10x;  20x;  40x;  60x;
CF Epi Plan Apo 100x и др.
10x;  12,5x;  15x
70 x 70 мм
10 мм
0,13 нм
0,1 мм/оборот (ручная фокусировка)
  * В системе предусмотрена возможность использования других моделей прямых и инвертированных
    микроскопов различных фирм-производителей.
ПЗС-КАМЕРА для МИКРОСКОПА
  Тип:
  Сенсор:
  Охлаждение:
  АЦП:
цифровая цветная ПЗС-камера
2/3", 1384x1032 пикселей
без охлаждения или Пельтье-охлаждение
скорость 9 кадров/сек, 12 бит
МОДУЛЬ КОНФОКАЛЬНОГО ЛАЗЕРНОГО МИКРОСКОПА
  Ослабитель лазерного пучка:
  Позиционер объектива:
  Регулируемая щель:
  Детектор:
нейтральный фильтр с изменяемой плотностью (VND)
трехкоординатный (X, Y, Z)
изменяемая от 0 до 1,5 мм с шагом 0,5 мкм
ФЭУ
ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКИЙ МОДУЛЬ (ОММ)
  Оптимизированная оптика для спектрального диапазона:

  Ввод лазерного излучения:
  Поляризаторы (каналы возбуждения и регистрации):
  Позиционер полуволновой пластинки:
  Расширитель пучка лазера:
  Позиционер дихроичных зеркал:
  Позиционер интерференционных фильтров:
  Позиционер объектива:
  Регулируемая щель:
  Ослабитель лазерного пучка:
  Узел сопряжения ОММ с микроскопом:
видимый (VIS):  390 - 800 нм  или  442 - 900 нм;
ближний ИК (NIR):  600 - 1000 нм
одно-, двух-, трехлучевой входной порт
призма Глан-Тейлора,  390 - 1000 нм
трезпозиционный
коэффициент увеличения 1,78 - 7,19
трезпозиционный
шестипозиционный
трехкоординатный (X, Y, Z)
изменяемая от 0 до 1,5 мм с шагом 0,5 мкм
нейтральный фильтр с изменяемой плотностью (VND)
однопозиционный узел; трехпозиционный переключатель
МОДУЛЬ ОПОРНОГО КАНАЛА
  Ослабитель лазерного пучка:
  Детектор:
нейтральный фильтр с изменяемой плотностью (VND)
ФЭУ
МОДУЛЬ СКАНИРОВАНИЯ
  Метод сканирования:
  Скорость сканирования:
гальванометрические сканеры зеркал (X-Y)
1 сек (512 x 512)
МОНОХРОМАТОР-СПЕКТРОГРАФ С КОМПЕНСАЦИЕЙ АСТИГМАТИЗМА MS5004i
  Оптическая схема:
  Фокусное расстояние:
  Порты:
  Фокальная плоскость:
  Узел дифракционных решеток:
  Спектральное разрешение:

  Астигматизм:
  Спектральная щель:


вертикальная
520 мм
1 входной, 2 выходных
28 x 10 мм
турель на 4 решетки
0,008 нм (Эшелле-решетка, длина волны 500 нм);
0,025 нм (решетка 1200 штр/мм)
< 8 мкм
ширина - 0-2,0 мм, единичный шаг 0,5 мкм
ПЗС-КАМЕРА для СПЕКТРОГРАФА
  Тип:
  Сенсор:
  Охлаждение:
  АЦП:

цифровая ПЗС-камера HS101H
back-thinned ПЗС-матрица 1024x58 пикселей
Пельтье-охлаждение с температурной стабилизацией
скорость до 1 МГц; 14 бит;
двойная коррелированная выборка
ЛАЗЕРЫ
  Ar, HeCd, HeNe (возможны лазеры других типов) с длиной волны от 350 нм до 850 нм
Подробную информацию о 3D сканирующем (лазерном) конфокальном микроскопе
со спектрометром "Nanofinder S" Вы можете найти здесь (PDF-файл, 717 Кб)
Nanofinder® является зарегистрированной торговой маркой Tokyo Instruments, Inc. (TII).
"СОЛАР ТИИ" имеет лицензионное соглашение с Tokyo Instruments, Inc. на использование торговой марки Nanofinder ®.
 
  сканирующий зондовый микроскоп | Вверх | На главную | О компании | Контакты | Аналитические приборы | Спектральные приборы | Лазеры